產品目錄
交易條件 | 供應能力 | ||
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zui小起訂量: | 1 個 | 生產率: | 100 |
XRF光譜儀探測器 包含:
1. X射線探頭和前置放大器(前放);
2. 數字脈沖處理器和多道分析器;
3. 電源和PC接口。
X-123X射線光譜儀探測器產品特性:
1. 緊湊的一體化設計;
2. 易操作;
3. 體積小(2.7 x 3.9 x 1英寸,7 x 10 x 2.5厘米);
4. 低功耗(2.5W);
5. 重量輕180克;
6. USB和RS232通訊支持;
7. 可封裝全系列的AMPTEK探測器。
X-123X射線光譜儀探測器應用范圍:
1. X射線熒光譜儀;
2. 執行RoHS/WEEE標準檢測的儀器;
3. 流程控制;
4. 藝術和考古;
5. X-123產品演示。
探測器:
1. Si-Pin半導體X射線探頭;
2. 兩級熱電制冷;
3. 面積:6-25mm2;
4. 厚度:300-500µm;
5. 多層準直器。
典型性能參數:
1. 分辨率:在5.9keV能量出的半高全寬為145到230eV;
2. 適用能量范圍:1-40keV;
3. zui大計數率:可達每秒兩百萬計數。
4. 實際的性能參數取決于不同的探測器和配置,可以為不同應用進行優化。
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